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- 1951 USAF照相用紙分辨率標(biāo)板
1951 USAF照相用紙分辨率標(biāo)板 因?yàn)槌上裣到y(tǒng)經(jīng)常按分辨率和對(duì)比度分類,我們的照相用紙標(biāo)板可以讓使用者用標(biāo)準(zhǔn)的USAF格式在不同對(duì)比度下評(píng)估他們的系統(tǒng)。例如,這個(gè)標(biāo)板在鏡頭設(shè)計(jì)者開發(fā)低分辨率高對(duì)比度,而不要求更高分辨率下的對(duì)比度時(shí)很有用??梢詷O簡(jiǎn)易的分辨出同樣的極限分辨率下,兩個(gè)鏡頭在較低分辨率時(shí)對(duì)比度上的差異。
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-12-20 ¥面議
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- USAF透射光路測(cè)試板
USAF透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒有光學(xué)材料,光線通過空氣傳播,這樣就去除了色差和吸收問題,本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖,1組元到3組圖,6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡(上方)可用在NUV場(chǎng)合,而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。這種電鑄模式的標(biāo)板裝在兩個(gè)圓板之間,可以安裝到我們的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置#64
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-12-20 ¥面議
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- 采用朗奇刻線法制作的高精度測(cè)試片
采用朗奇刻線法制作的高精度測(cè)試片 高精度的Ronchi Ruling玻璃標(biāo)板是評(píng)估分辨率,畸變和焦面穩(wěn)定性的*工具。有許多不同分辨率版本可選,包括英制的(線對(duì)/英寸),公制的(線對(duì)/毫米)。規(guī)格為方形1”, 2”, 4”和6”。
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-12-20 ¥面議
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- I3A/ISO 12233 分辨率測(cè)試卡
I3A/ISO 12233 分辨率測(cè)試卡可用來測(cè)試相機(jī)的電子靜態(tài)圖象分辨率,符合ISO 12233標(biāo)準(zhǔn)。不管模擬或數(shù)字相機(jī),還是黑白照片和彩色攝影機(jī)都可以使用與這張測(cè)試圖。 也可以測(cè)量人眼的分辨率,極限分辨率,也可以作為一種簡(jiǎn)單而方便的方法測(cè)頻率響應(yīng)的數(shù)據(jù),與測(cè)相機(jī)的MTF值相似。圖片的分辨率范圍從100到 2000LW/PH(高度方向線數(shù))高精度可達(dá)0.1mm。
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- 更新日期:2023-12-20 ¥面議
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- IEEE 標(biāo)板
IEEE 標(biāo)板為成像系統(tǒng)提供了一個(gè)初始像,可用來測(cè)試多種相機(jī)系統(tǒng)的鑒別率。同一個(gè)成像系統(tǒng)在水平視場(chǎng)和垂直視場(chǎng)、中心視場(chǎng)和邊緣視場(chǎng)、以及四周分辨率都不盡相同,而通過使用本品就可一目了然;加之本產(chǎn)品可用于檢測(cè)線性掃描、屏幕寬高比、明暗以及間隔,非常適用于對(duì)比和標(biāo)定多種視頻系統(tǒng),重復(fù)精度高。
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- 更新日期:2023-12-20 ¥面議
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- NBS 1963A 分辨率測(cè)試板
NBS 1963A 分辨率測(cè)試板 采用NBS 1963A分辨率圖案,既可用正片(圖案黑色,背景透明), 也可用負(fù)片(背景黑色,圖案透明),可用于精密光學(xué)測(cè)試,各測(cè)試片采用盒裝。
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- 更新日期:2023-12-20 ¥面議